Ответы » Химия (17277 вопросов)

Вопрос № 74358 - Химия

В основе метода нефелометрии лежит измерение …
Варианты ответов
  • длины волны падающего света
  • интенсивности падающего света
  • плотности дисперсионной среды
  • интенсивности светорассеивания
Тип вопроса: Вопрос с одним правильными вариантом
Правильный ответ
Ответ на этот вопрос уже получили: 2 раз(а)
Помогли ответы? Ставь лайк 👍
Расскажи другу:
Вопрос задал(а): Анонимный пользователь, 24 Декабрь 2015 в 09:21
На вопрос ответил(а): Любимов Павел, 24 Декабрь 2015 в 09:21

Похожие вопросы

Вопрос № 1147821

С помощью метода нефелометрии можно определить _______ коллоидной частицы
показатель преломления
плотность
заряд
размер

Вопрос № 392960

В основе метода наименьших квадратов лежит …
равенство нулю суммы квадратов отклонений фактических значений результативного признака от его теоретических значений
максимизация суммы квадратов отклонений фактических значений результативного признака от его теоретических значений
минимизация суммы квадратов отклонений фактических значений результативного признака от его исходных значений
минимизация суммы квадратов отклонений фактических значений результативного признака от его теоретических значений

Другие вопросы по предмету Химия

Вопрос № 74399

Наиболее сильной окислительной способностью обладает ион…
ClO4-
ClO3-
ClO2-
ClO-

Вопрос № 74468

Органическое вещество, образующееся при термическом разложении ацетата кальция, называется …
бутан
этан
этанол
ацетон

Вопрос № 74474

Угловое строение имеют молекулы…
CH4
CO2
H2O
H2S

Вопрос № 74482

При щелочном гидролизе пропилового эфира бензойной кислоты образуется соль, название которой …
фенолят натрия
пропионат натрия
пропилат натрия
бензоат натрия
А еще можно заказать:
Лабораторные от 200 руб Контрольные от 200 руб Курсовые от 500 руб Дипломные от 3000 руб Отчет по практике от 500 руб